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顯微分光光度計的基本特點
日期：2025-05-10 14:40
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摘要：
基于視窗結構的軟件，很容易操作 先進的深紫外光學及堅固耐用的抗震設計，以確保系統能發揮出的性能及長的正常運行時間 基于陣列設計的探測器系統，以確保快速測量 低價格，便攜式及靈巧的操作臺面設計 在很小的尺寸范圍內，多可測量多達5層的薄膜厚度及折射率 在毫秒的時間內，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數 能夠用于實時或在線的監控光譜、厚度及折射率 系統配備大量的光學常數數據及數據庫 對于每個被測薄膜樣品，用戶可以利用先進的軟件功能選擇使用NK數據庫、也可以進行色散或者復合模型（EMA）測量分析 系統集合了可視化、光譜測量、仿真、薄膜厚度測量等功能于一體 能夠應用于不同類型、不同厚度(*厚可測200mm)的基片測量 使用深紫外光測量的薄膜厚度低可至20 ? 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數據管理界面 先進的成像軟件可用于諸如角度、距離、面積、粒子計數等尺寸測量 各種不同的選配件可滿足客戶各種特殊的應用。